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TestWay/TestWay Express プログラム生成/テスト容易化設計(Design for Testability/DFT)ASTER Technologies Home Page

TestWay今日の、複雑で集積度が高いボードでは製品の開発を含め、テスト・プログラムの生成そのテスト速度・精度、テストカバレッジの検証など多くの時間とコストが必要となっています。TestWay / TestWay Expressでは基板の部品面や裏面からICのピンに直接アクセスできない
PGA(ピングリッドアレー)やBGA(ボールグリッドアレー)などが多数搭載された基板のテストカバレッジを最大化するため、基板の開発段階でテスト戦略を検証し最適化することが可能です。生成可能なプログラムファイルとして、部品搭載用機器(Pick and Placeなど)、AOI
*、AXI*、JTAG/Boundary Scan、FPT*、ICT*などで必要なテストファイルは全て生成可能で、これらテストを事前に検証しテストカバレッジを最大化すると同時に、テスト機器の間の重複するテストの最適化を行うことが可能です。

主な機能

  • TestWay / TestWAy Express
    実装基板製造現場でのテスト・プログラ生成、テスタビリティ及びテストカバレッジ予測及び最適化を含む、DFT(テスト容易化設計)を目的として開発されたソフトウェアで、多くの基板製造やそのテスト工程に携わる技術者に、ご利用いただいております。
  • CADデータのほとんどのフォーマットに対応
    市販されているPCB基板製造CADデータのほとんどのフォーマットに対応しており、部品(BOM) 、回路図(PDF) 及びレイアウト図(PCB)データを取り込むことで、部品形状、パッド、ビア及びネットリスト等を、基板の全容を正確に可視化し相互に関連付けられた状態でテスト・プログラムの開発が行えます。
  • DFT(テスト容易化設計) / テストカバレッジ解析の実行
    設計段階で、DFT (テスト容易化設計)/ テストカバレッジ解析の迅速な実行が可能。あらゆる種類のPCB基板のテストカバレッジを簡単に予測・測定することが可能で、また治具設計のセットアップを事前に解析し利用可能なプローブサイズの決定など柔軟に対応可能。各種テスタのプログラム開発において、テスタのテストカバレッジの比較や最適化を実施し、最適なテスト戦略を選定し、テストカバレッジの最大化とテスト時間の短縮やコスト削減に貢献します。
  • プローブ配置の最適化
    ICTに使用するネイル/プローブの自動選択やFPTプローブの最適な位置決めや移動高さ、移動速度の調整等、基板の製造前にプローブの選定と最適化が出来ます。プローブがアクセス出来ないような問題のネットをグラフィックスで表示し、回路図・ネットリスト・レイアウト図と対応させ問題のある個所を確認可能です。またプローブのオフセット設定で高密度基板をテストすることも可能です。
  • テスト・プログラムの自動生成
    部品搭載機器、外観検査装置(AOI)、X線検査装置(AXI)、フライング・プローブ・テスタ(FPT)及びインサーキット・テスタ(ICT)等の多様なテスト・システムに対応するテストプログラムを自動生成します。また、JTAG/バウンダリスキャン・テスト用のファイルを出力可能で、このファイルを各社のJTAG/バウンダリスキャンテスト・プログラム(ベクター)生成用ファイルとして利用できます。
  • システム統合
    昨今JTAG/バウンダリスキャン とAOI、 AXI、 FPT 及び ICTなどのテスタを組み合わせたテストが普及しています。Testway Expressに、部品(BOM) 、回路図(PDF) 、レイアウト図(PCB)やネットリストを取り込むことで、各テスタに必要な最適化されたテスト・プログラムを一括して生成することが可能であると同時に統一した環境下で管理することが出来ます。


    *略語:
    AOI:Automated Optical Inspection(基板外観検査装置)
    AXI:Automated X-Ray Inspection(X-線検査装置)
    FPT:Flying Probe Test(フライングプローブテスタ/フィクスチャレス・インサーキットテスタ)
    ICT:In-Circuit Test(インサーキットテスタ)

バナースペース

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